紫外可視分光光度計
日本分光は、従来の分光光度計V-600シリーズを一新した新型紫外可視分光光度計「V-700シリーズ」を9月1日より発売開始します。分光光度計は、物質の紫外、可視、近赤外における吸収、反射の度合いを測定することにより定性、定量や物性を測定する分析機器です。
V-700シリーズは、6モデルより構成されており、いずれのモデルも安定性に優れたダブルビーム方式を採用しています。小型汎用タイプから高性能タイプまで、測定目的に合わせて選択することができます。小型汎用タイプのV-730及びV-730BIOは、液体試料の吸光度測定を主とするニーズに向いており、測定波長範囲は190〜1100nmになっています。V-730はPC及びiRM（インテリジェントリモートモジュール）から操作することができます。新型iRMは、従来のモデルで使用していたタイプに比べカラー液晶画面が大きくなり、USBメモリーが使えるようになりました。また、PC解析用ソフトも同梱され、PC上で解析や印刷が行えます。V-730BIOは、iRMにライフサイエンスに特化したソフトを標準で搭載しています。
V-750、760、770、780のモデルは、光電子増倍管などの高感度検出器を搭載し、低迷光分光器と相まって、高精度な物性評価に活躍します。V-750及び760は、190〜900nmまでの紫外可視領域の測定に使用でき、積分球を使用した拡散反射測定にも対応しています。V-760は、ダブルモノクロメーターを搭載した超低迷光（0.00008%）分光光度計で、吸光度の高い試料に対しても精度の高い測定が行えます。V-770は、近赤外領域用にPbS検出器を搭載し、190〜2700nm（オプションで3200nmまで拡張可能）まで測定可能な紫外可視近赤外分光光度計です。V-780は、近赤外領域用にInGaAs検出器を使用し、190〜1600nmまで測定できます。特に900〜1600nmの領域は、V-770よりも低ノイズ（約20分の1）になっています。
V-700シリーズは、分光器の最適化を図ることにより、従来モデルよりも広い波長域で優れたダイナミックレンジを保証しています。また、日常点検プログラムを新たに搭載し、日々のトレンドを追うことができるので、データの信頼性を担保することができます。PC用のソフトウェアも一新し、測定からデータ解析まで一連の操作を自動で行うことができ、ルーチン分析における効率化にも対応しています。
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| モデル名 | FT/IR-4600 | FT/IR-4700 |
|---|---|---|
| 測定波数範囲 | 7800～350cm−1 | |
| 測定波数拡張範囲※1 | 15000～2200cm−1、5000～220cm−1 | |
| 最高分解 | 0.7cm−1 | 0.4cm−1 |
| SN比 | 25000:1 | 35000:1 |
| 検出器 （オプション） |
DLATGS（温調付き） （MCT-N、MCT-M、MCT-W、Siフォトダイオード、InSb、InGaAs） |
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| ビームスプリッタ （オプション） |
Ge/KBr （Si/CaF2、Ge/CsI） |
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| 光源 （オプション） |
高輝度セラミック光源 （ハロゲンランプ） |
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| 干渉計 | 45°入射マイケルソン干渉計 コーナーキューブミラー使用、オートアライメント機構、DSP制御 密閉型 |
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| パージ | 干渉計、試料室、検出器部対応 | |
| ラピッドスキャン | オプション（10Hz、16cm−1） | |
| 本体 | 大きさ: 460（W）×645（D）×290（H）mm（本体のみ） 重さ: 約33kg（本体のみ） |
|
※1 FT/IR-4000シリーズの波数拡張は、近赤外、遠赤外のいずれかになります。
| モデル名 | 7100 | 7200 | 7300 |
|---|---|---|---|
| 光学系 | 立体配置リトロー型マウント ダブルモノクロダブルビーム方式 | ||
| 光源 | 重水素ランプ タングステンハロゲンランプ 水銀光源（バリデーション用） | ||
| 波長範囲 | 185～900nm | 185～3300nm | 185～1800nm |
| 分解 | 0.049nm以下（UV/VIS） | 0.049nm以下（UV/VIS） 0.2nm以下（NIR） |
0.049nm以下（UV/VIS） 0.1nm以下（NIR） |
| 波長正確さ | ±0.08nm（190～800nm） | ±0.08nm（190～800nm） ±0.40nm（800～3000nm) |
±0.08nm（190～800nm） ±0.20nm（800～1700nm） |
| 測光レンジ | +/－8.0Abs | ||
| 光源 （オプション） |
高輝度セラミックス光源 ハロゲンランプ、水冷式高圧水銀光源 |
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| 測光正確さ | 0.00028Abs（0.3Abs,UV/VIS）ダブルアパーチャ使用 | ||
| ベースライン安定性 | 0.0002Abs/Hr以下 | ||
| ベースライン平坦性 | ±0.0012Abs（200～850nm） | ±0.0012Abs（200～3000nm） | ±0.0012Abs（200～1700nm） |
| 迷光 | 0.00007%以下 220nm （10g/L NaI ASTM） 0.00007%以下370nm （50g/L NaNO2） |
0.00007%以下220nm （10g/L NaI ASTM） 0.00007%以下 370nm （50g/L NaNO2） 0.0003%以下1420nm H2O 光路長1cm） 0.00048%以下 2365nm （CHCl3 光路長1cm） |
0.00007%以下220nm （10g/L NaI ASTM） 0.00007%以下 370nm （50g/L NaNO2） 0.00005%以下1420nm （H2O 光路長1cm） |
| 検出器 | 光電子増倍管 | 光電子増倍管 冷却型PbS光導電素子 |
光電子増倍管 冷却型InGaAsフォトダイオード |
| 定量測定 | 1,2,3波長演算、検量線：一次、二次、三次式、比例、折れ線 ロジスティック関数、スプライン関数 |
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| スペクトル測定 | 測光モード：Abs,%T,%R データ処理機能：ピーク検出，ピーク高さ（比） ピーク面積（比）、半値幅、トレース、ズーム、微分、スムージング、Abs/%T/%R変換 K-M変換、K-K変換、四則演算、ベースライン補正、差スペクトル、不要ピーク除去 デコンボリューション、FFTフィルタ、データ補間カット、横軸変換：cm-1,μm,eV,nm |
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| 時間変化測定 | 測光モード：Abs,%T,%R、データ処理機能：カイネティクス、トレース、ズーム | ||
| 固定波長測定 | 最大8波長同時測定可能 | ||
| プログラム | JASCOスペクトルマネージャ | ||
| 表示 | 日本語 | ||
| 寸法・重量 | 1020（W）×710（D）×380（H）mm 91kg | ||
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